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4.4.1 A组检验。
a.
b.
试验应符合表IIA本文规定。
子组7 ，8，10 ，和表I 11 ， MIL-STD- 883的方法5005将被省略。
4.4.2 C组检验。 C组检查端点的电气参数应符合表IIA本文规定。
4.4.2.1其他标准设备类M.稳态寿命试验条件，方法MIL -STD- 883 1005 ：
a.
测试条件A，B ，C或D的测试电路应该由文档修订级别控制下的制造商保持
并应提供给要求的准备或收购活动。测试电路应指定输入，
输出的偏差，并耗散功率，如适用，按照MIL-的测试方法1005中指定的目的
STD-883.
T
A
= + 125°C ，最低。
测试时间：1,000小时，除非允许的MIL -STD- 883方法1005 。
b.
c.
4.4.2.2其他标准设备类Q，T和V的稳态寿命试验时间，试验条件和试验温度，
或经批准的方案应为符合MIL -PRF- 38535规定的设备制造商的质量管理计划。试验
电路应保持文档的修订级别控制下的设备制造商的TRB符合MIL - PRF-
38535和要求应提供给获得或准备的活动。测试电路应指定输入，
输出的偏差，并耗散功率，如适用，按照MIL-STD -883的试验方法1005指定的意图。
4.4.3 D组的检查。 D组检查端点的电气参数应符合表IIA本文规定。
4.4.4 E组的检查。 E组的检查只需要部分拟被标记为辐射硬度保证
（见本文3.5 ） 。 RHA水平的设备类别M，Q和V必须按照规定在MIL-PRF- 38535和结束点的电
参数应符合表IIA本文规定。对于设备类T时， RHA要求应按照类
MIL -PRF - 38535对T辐射要求。终点电气参数T类设备应在表被指定
I， A组分组，或修改在质量管理计划。
4.4.4.1总剂量辐照试验。总剂量辐照试验应符合MIL -STD- 883方法进行
1019条件A和本文规定。对于设备类T，总剂量要求应符合T级
MIL -PRF- 38535的辐射要求（见本文1.5 ） 。
4.4.4.1.1加速老化试验。加速老化试验应要求RHA级别的所有设备进行大于5K
拉德（SI ） 。后退火终点电气参数的限制应如表我这里规定，并应预辐照
在25℃的终点电参数极限
±5C.
试验应在初步认证任何设计或工艺后进行
的变化可能会影响该设备的RHA响应。
4.4.4.2中子测试。中子试验应符合MIL -STD- 883和本文的测试方法1017进行
（见1.5） 。所有设备类必须满足后照射终点的电参数限制如表I所定义，为
12
2
表IIA本文在T亚组
A
= +25°C
±5°C
后的2×10中子/平方厘米（最小）的曝光。
4.4.4.3剂量率引起的闭锁测试。诱发闭锁试验剂量率应按照测试方法进行
1020 MIL -STD- 883和本文规定（见本文1.5 ） 。试验应在设备上执行， SEC或认可的测试
结构的技术鉴定和之后的任何设计或工艺变化可影响过程的RHA能力。
标准
微电路图纸
哥伦布国防供应中心
美国俄亥俄州哥伦布市43216-5000
DSCC FORM 2234
APR 97
SIZE
A
修订级别
5962-95690
片
E
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