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1兆位/ 2兆位/ 4兆位多用途闪存
SST39SF010A / SST39SF020A / SST39SF040
初步speci fi cation
VIHT
输入
VIT
参考点
VOT
产量
VILT
398 ILL F11.1
AC测试输入在V驱动
IHT
（ 3.0V）为逻辑“1 ”和第五
ILT
（0V）为一个逻辑“0”。对于输入的测量参考点
并输出为V
IT
（1.5V ）和V
OT
（ 1.5V ） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90％）是<5纳秒。
注意：
V
IT
- V
输入
TEST
V
OT
- V
产量
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图13 ： AC I
NPUT
/O
安输出
R
指南
W
AVEFORMS
试验载荷例
VDD
TO测试仪
RL高
到DUT
CL
RL低
398 ILL F12.0
图14 ：一件T
美东时间
L
OAD
E
XAMPLE
2001硅存储技术公司
S71147-02-000 5/01
398
15
