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2兆位多用途闪存
SST39SF020
初步规格
VIHT
VHT
输入
参考点
VHT
产量
1
2
326 ILL F11.1
VLT
VILT
VLT
AC测试输入在V驱动
IHT
（2.4 V）为一个逻辑“1”和第五
ILT
（ 0.4伏），用于逻辑“ 0”。测量参考点
输入和输出是V
HT
（2.0 V）和V
LT
（ 0.8 V） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90 ％）为<10纳秒。
注： V
HT
–V
高
TEST
V
LT
–V
低
TEST
V
IHT
–V
输入
高测试
V
ILT
–V
输入
低测试
3
4
5
6
7
F
IGURE
12 ： AC I
NPUT
/O
安输出
R
指南
W
AVEFORMS
试验载荷例
VCC
TO测试仪
RL高
8
9
10
到DUT
CL
RL低
11
12
13
326 ILL F12.1
14
F
IGURE
13 ：一件T
美东时间
L
OAD
E
XAMPLE
15
16
1998硅存储技术公司
15
326-10 12/98
