LTC1273
LTC1275/LTC1276
APPLICATI
S I FOR ATIO
转换详情
该LTC1273 / LTC1275 / LTC1276采用连续AP-
近似保护算法和内部采样和保持
电路的模拟信号转换为12位并行或
2字节的输出。这些ADC都配有精密
参考和一个内部时钟。控制逻辑提供
简单的接口与微处理器和DSP 。 （详情请参阅
到的数据格式的数字接口部分）。
转换开始是由CS ， RD和HBEN控制
输入。在转换的逐次逼近的开始
息寄存器（SAR ）复位和三态数据
输出被使能。一旦在转换周期开始
它不能被重新启动。
在转换过程中，内部12位DAC电容
输出从最显著测序特区
位（ MSB ），以最少的显着位（ LSB ） 。参照
图1中，A
IN
输入连接到采样和保持
在获取相位电容和比较器
偏移量是通过反馈开关调零。在此获取
相，为600ns的最小延迟将提供足够的
时间的采样和保持电容器，以获得所述
模拟信号。在转换阶段，比较
反馈开关打开时，将比较成
比较模式。输入开关的交换机C
样品
to
地，注射模拟输入电荷到sum-
明路口。该输入电量连续的COM
相比与由所提供的二进制加权的费用
样品
A
IN
HOLD
C
DAC
DAC
V
DAC
–
+
比较
S
A
R
振幅（分贝）
样品
C
样品
SI
LTC1273 / 76分之75 F01
12-BIT
LATCH
图1.
IN
输入
10
U
电容式DAC 。位决定由高速制作
比较器。在一次转换结束时， DAC输出
平衡在A
IN
输入电荷。特区的内容（ 12位
数据字），它代表了A
IN
被装载到
12位的输出锁存器。
动态性能
该LTC1273 / LTC1275 / LTC1276具有一个非常
高速采样能力。 FFT（快速傅立叶反式
形式）的测试技术被用来表征ADC的
频率响应，失真和噪声在额定
吞吐量。通过施加一个低失真的正弦波和
使用FFT算法分析该数字输出，该
ADC的频谱可以被检查的频率
外面的根本。图2显示了一个典型的LTC1275
FFT图。
信噪比
的信号与噪声加失真比[ S /（N + D） ]是
基本输入RMS幅度之比
频率的所有其它频率的RMS振幅
组件在A / D输出。的输出被带限定
到的频率从上述直流和下面一半的采样
频率。图2显示了一个典型的光谱内容与
一个300kHz的采样率和一个29kHz的输入。动态
性能优异的输入频率达
Nyquist极限为150kHz的。
0
–20
–40
–60
–80
f
样品
= 300kHz的
f
IN
= 29.37kHz
–100
–120
0
20
40
60 80 100 120 140 160
频率（kHz ）
LTC1273 / 76分之75 F02
W
U
UO
图2： LTC1275 Nonaveraged ， 1024点FFT图
