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AT89C51RC
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> AT89C51RC PDF资料1第27页
AT89C51RC
并行芯片擦除模式
测试条件
格局
测试条件设置
200纳秒
ALE / PROG
200纳秒
P3<0>
V
CC
= 6.5V
抹去
DC
抹去
抹去
DC
抹去
V
CC
= 4.5V至5.5V
等待10毫秒前
重新编程
10毫秒
27
1920B–MICRO–11/02
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