A D V A N权证
我N· R M一T I O 4 N
AC特性
读操作
参数
JEDEC
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
性病
t
RC
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
描述
读周期时间（注1 ）
地址输出延迟
芯片使能到输出延迟
输出使能到输出延迟
芯片使能到输出高Z（注1 ）
输出使能到输出高Z（注1 ）
读
t
OEH
OUTPUT ENABLE
保持时间（注1 ）
切换和
数据＃投票
CE＃ = V
IL
OE ＃ = V
IL
OE ＃ = V
IL
测试设置
民
最大
最大
最大
最大
最大
民
民
民
速度选项
-150
150
150
150
55
40
40
0
10
0
-200
200
200
200
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
AXQX
t
OH
输出保持时间从地址， CE ＃或OE ＃ ，
以先到为准（注1 ）
注意事项：
1.不100 ％测试。
2.请参见图12和表7的测试规范。
t
RC
地址
CE＃
t
OE
t
OEH
WE＃
高Z
输出
RESET＃
RY / BY ＃
输出有效
t
CE
t
OH
高Z
t
DF
地址稳定
t
加
OE ＃
0V
21518A-16
图14 。
读操作时序
26
Am29LL800B
