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P L I M I N A R
AC特性
只读操作特性
参数
符号
JEDEC
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
t
AXQX
标准说明
t
RC
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
t
OH
t
准备
t
ELFL
t
ELFH
读周期时间（注4 ）
地址输出延迟
CE = V
IL
OE = V
IL
测试设置
民
最大
最大
最大
最大
最大
民
最大
最大
-65
60
60
60
30
20
20
0
20
5
速度选项（注1及2 ）
-70
70
70
70
30
20
20
0
20
5
-90
90
90
90
35
20
20
0
20
5
-120
120
120
120
50
30
30
0
20
5
-150
150
150
150
55
35
35
0
20
5
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
ns
芯片使能到输出延迟OE = V
IL
输出使能输出
延迟
芯片使能到输出高Z
（注3,4）
输出使能输出
高Z（注3,4）
输出保持时间从
地址， CE或OE ，
以先到为准科幻RST
RESET引脚低电平阅读
模式（注4 ）
CE为字节交换低
或高
注意事项：
1.测试条件下（ -65只）
输出负载： 1 TTL门和30 pF的
输入上升和下降时间： 5ns的
输入脉冲电平： 0.0 V至3.0 V
定时测量参考电平： 1.5 V输入
和输出
2.测试条件下（ -70 ， -90 ， -120 ， -150 ）
输出负载： 1 TTL门和100 pF的
输入上升和下降时间： 20 ns的
输入脉冲电平： 0.45 V至2.4 V
定时测量参考电平： 0.8 V和2.0 V
输入和输出
3.输出驱动禁止时间
4.未经100％测试。
5.0 V
IN3064
或同等学历
2.7 k
设备
下
TEST
CL
6.2 k
IN3064或等效
IN3064或等效
注意事项：
对于-65 ：C
L
= 30 pF包括夹具电容
对于所有其他：C
L
= 100 pF包括夹具电容
IN3064或等效
20380B-14
图7.测试条件
24
Am29F400AT/Am29F400AB
