AC特性
参数符号
JEDEC
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
标准
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
（注2 ）
描述
地址输出延迟
芯片使能到输出延迟
输出使能到输出延迟
芯片使能高或输出使能
高输出高Z，无论
发生网络RST
输出保持时间从地址，
CE ＃或OE ＃ ，先到为准
第一次
测试设置
CE ＃ ，
最大
OE ＃ = V
IL
OE ＃ = V
IL
最大
CE＃ = V
IL
最大
最大
-95
90
90
50
30
-105
100
100
50
30
Am27C4096
-120
120
120
50
40
-150
150
150
65
40
-200
200
200
75
40
-255
250
250
75
60
单位
ns
ns
ns
ns
t
AXQX
t
OH
民
0
0
0
0
0
0
ns
注意事项：
请不要删除该设备（或将其插入）插座或电路板有V
PP
或V
CC
应用。
注意事项：
1. V
CC
必须同时或V前申请
PP
，并同时或V后取出
PP
.
2.这个参数进行采样，而不是100 ％测试。
3.开关特性是在操作范围内，除非另有说明。
4.参见图3和表1的测试规范。
开关波形
2.4
地址
0.45
CE ＃ / PGM ＃
t
CE
OE ＃
t
OE
高Z
t
加
（注1 ）
t
OH
有效的输出
高Z
11408F-9
2.0
0.8
地址是合法的
2.0
0.8
t
DF
（注2 ）
产量
注意事项：
1. OE ＃可能会延迟到t
加
– t
OE
的地址而对吨冲击下降沿之后
加
.
2. t
DF
从OE ＃或CE ＃指定，以先到为准。
封装电容
参数
符号
C
IN
C
OUT
参数
描述
输入电容
输出电容
CDV040
测试条件
V
IN
= 0
V
OUT
= 0
典型值
10
10
最大
13
13
PD 040
典型值
6
8
最大
8
10
PL 044
典型值
10
12
最大
13
14
单位
pF
pF
注意事项：
1.该参数仅采样，而不是100 ％测试。
2. T
A
= +25
°
C，F = 1兆赫。
10
Am27C4096
