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ISL95711
操作规范
在推荐的工作条件，除非另有规定。
（续）
符号
t
高
t
SU ： STA
t
高清： STA
t
苏： DAT
t
高清： DAT
t
苏： STO
t
高清： STO
t
DH
t
R
（注15 ）
t
F
（注15 ）
Cb
（注15 ）
RPU
（注15 ）
t
WC
（注14 ）
t
苏：一个
t
高清：一
参数
时钟高电平时间
启动条件建立时间
START条件保持时间
输入数据建立时间
输入数据保持时间
停止条件的建立时间
停止条件的建立时间
输出数据保持时间
SDA和SCL上升时间
SDA和SCL下降时间
电容式SDA或SCL的加载
SDA和SCL总线上拉电阻场外
芯片
非易失性写周期时间
A0 ， A1建立时间
A0 ， A1保持时间
启动条件结束前
停止条件后，
600
600
测试条件
测量V的70 ％
CC
道口。
SCL上升沿到SDA下降沿。两
穿越的V 70 ％
CC
.
从SDA下降沿穿越V的30 ％
CC
to
SCL下降沿穿越V的70 ％
CC
.
从SDA退出30％至70 ％的V
CC
窗口，以SCL上升沿穿越V的30 ％
CC
从SCL上升沿穿越V的70 ％
CC
to
SDA进入Ⅴ的30 ％至70％
CC
窗口。
从SCL上升沿穿越V的70 ％
CC
，以
SDA上升沿穿越V的30 ％
CC
.
从SDA上升沿到SCL下降沿。两
穿越的V 70 ％
CC
.
从SCL下降沿穿越V的30 ％
CC
直到
SDA进入30％70 ％的V
CC
窗口。
从30％到V的70％
CC
从70％到V的30％
CC
总片上和片外
最大为t确定
R
和T
F
.
用于CB = 400pF时，最大约为2 2.5kΩ 。
用于CB = 40pF ，最大约为15 20kΩ的。
民
600
600
600
100
0
600
600
0
20 +
0.1 * Cb的
20 +
0.1 * Cb的
10
1
250
250
400
典型值
（注1 ）
最大
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
pF
k
12
20
ms
ns
ns
SDA ，SCL VS时机
t
F
t
高
t
低
t
R
SCL
t
SU ： STA
t
高清： STA
SDA
（输入计时）
t
苏： DAT
t
高清： DAT
t
苏： STO
t
AA
SDA
（输出时序）
t
DH
t
BUF
5
FN8241.2
2005年8月15日
