飞思卡尔半导体公司
时序图
V
SUP
V
SUP
TXD
LIN
RXD
GND
R
0
C
0
记
R
0
和C
0
： 1.0 k / 1.0 nF的， 660
/6.8
nF的，和500
/10
nF的。
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图2.测试电路定时测量
TXD
隐性状态
V
REC
LIN
58.1% V
SUP
t
DOM
（分钟）
40% V
SUP
28.4% V
SUP
t
DOM
（最大）
t
REC
（分钟）
RXD
t
RL
t
RH
t
REC
（最大）
74.4% V
SUP
60% V
SUP
42.2% V
SUP
图3.定时测量为普通压摆率
TXD
隐性状态
V
REC
LIN
61.6% V
SUP
t
DOM
（分钟）
40% V
SUP
25.1% V
SUP
t
REC
（最大）
77.8% V
SUP
60% V
SUP
38.9% V
SUP
t
DOM
（最大）
t
REC
（分钟）
RXD
t
RL
t
RH
图4.定时测量的慢转换速率
摩托罗拉模拟集成电路设备数据
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