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飞思卡尔半导体公司
故障模式
在33984显示以下故障所发生的由
驱动
FS
终端逻辑[ 0 ] :
过热故障
打开负载故障
过流故障(高,低)
过压和欠压故障
负载开路故障(非锁定)
在33984上集成了负载开路检测电路
每个输出。输出开路负载故障( OLF )的检测和
作为故障状态时,该输出被禁止(关闭)。
在负载开路故障被检测并锁存到状态
注册后的内部栅极电压被拉低足够
关闭输出。该OLF故障位的状态设置
注册。如果负载开路故障排除后,状态寄存器
读寄存器后清零。
在负载开路保护,可以禁用槽SPI (位
OL_dis ) 。
过流故障(锁定)
该器件具有8个可编程的过流低
检测水平(我
OCL
)和两个可编程的过流高
检测水平(我
OCH
)的最大设备保护。两
可选的,同时激活过电流检测水平,
由我定义
OCH
OCL
,示于
图4中,
第13页。
8个不同的过流检测低的水平(我
OCL0
:I
OCL7
)
也同样说明
图4中。
如果负载电流电平没有到达选
过电流检测低的水平,过流条件
超过设定的过电流的时间段(t
在OCx
),则
设备将锁存影响输出OFF 。
如果在任何时间在电流达到所选择的余
OCH
的水平,
那么该器件将立即锁存故障并关闭
输出时,无论选择的t
OCL
驱动程序。
对于这两种情况下,该装置的输出将保持关闭,直到无限
该设备被命令关闭,然后再次打开。
FS
终端将自动返回到逻辑[1]时的
故障排除为止,除过电流,在某些
欠压情况。
故障信息被保留在故障寄存器,并
中的第一个有效可用的(重设)经由所述SO终端
SPI通信(参照
表9
第20页) 。
飞思卡尔半导体公司...
过温故障(非锁定)
在33984集成了过温检测和
关断电路在每个输出结构。过热
被使能的检测时的输出处于ON状态。
对于输出,过温故障( OTF )的条件
导致故障的输出关闭,直到温度
低于经t
SD ( HYS )
。这种循环会一直继续下去,直到
取由MCU动作关断的输出端,或直到
违规的载荷被除去。
当遇到此故障时, OTF故障位将被置
状态寄存器和后一个有效的SPI读取或清零
该装置的电源复位。
过压故障(非锁定)
在33984关断时输出过压故障
( OVF )在V条件
PWR
终奌站。输出保持在
关断状态,直到过压状态被去除。当
遇到此故障时,故障OVF位的位OD1和设置
后一个有效的SPI读取或的电源复位清零
装置。
过电压保护和诊断可以被禁用
槽SPI (位OV_dis ) 。
欠压关断(闭锁或非闭锁)
在与一些电池电压输出锁存关闭
5.0 V和6.0V。只要在V
DD
级别保持内
正常的指定范围内的内部逻辑状态
装置将持续下去。这确保了电池时
电平,然后返回上述的6.0 V时,该装置可被返回到
它的低V是在以前的状态
PWR
游览。一旦
输出锁存关断,输出必须关闭和打开
再次重新启用它们。在这种情况下IN1 : IN0 = 0时,此故障是
非锁存。
欠压保护和诊断可以被禁用
通过SPI (位UV_dis ) 。
电池反接
输出生存反向电压低的应用
为-16五。在这些条件下,输出的栅极是
增强,以保持结点温度低于150 ℃。
输出的导通电阻是非常相似,在
正常模式。无需额外的无源元件。
接地断开保护
在事件33984地从负载断开
地,该装置可以保护自身而安全地断开的
输出的输出而不管状态时的时间
断线。
33984
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