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ST6208C/ST6209C/ST6210C/ST6220C
工作条件
（续）
10.3.2工作条件与低电压检测（ LVD ）
除一般的工作条件V
DD
, f
OSC
和叔
A
.
符号
V
IT +
V
IT-
V
HYS
Vt
POR
t
克（VDD）的
参数
复位释放门槛
(V
DD
升）
复位门限代
(V
DD
秋天）
LVD电压阈值迟滞
V
DD
上升时间率
2)
条件
民
3.9
3.6
典型值
1)
4.1
3.8
300
30
最大
4.3
单位
V
4
700
mV
毫伏/秒
由LVD检测不到
ns
V
IT +
-V
IT-
50
在V过滤毛刺延迟
DD 3)
注意事项：
1. LVD的典型的数据是基于对T
A
= 25°C 。它们被赋予仅作为设计指导，未经测试。
2.最小V
DD
上升时间率是必要的，以确保正确的设备上电和LVD复位。在生产中测试。
基于特性数据3.数据，而不是在生产测试。
图39. LVD阈值对战V
DD
和f
OSC
3)
f
OSC
[兆赫]
在8设备
RESET
在这个区域4
0
的功能
不能保证
在这个区域
2.5
图40.典型的LVD阈值对战
温度OTP设备
阈值[V]的
4.2
4
3.8
3.6
-40°C
25°C
T [ ° C]
95°C
125°C
000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000
000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000
3
3.5
功能区
供应
电压[V]
V
IT-
≥3.6
4
4.5
5
5.5
6
图41.典型的LVD阈值
温度ROM设备
与
阈值[V]的
4.2
4
V
IT +
up
VDD
V
IT-
下
VDD
3.8
V
IT +
up
VDD
V
IT-
下
VDD
3.6
-40°C
25°C
T [ ° C]
95°C
125°C
65/104
1
