ST72561
6.4系统完整性管理（ SI ）
该系统完整性管理模块包含
低电压检测（ LVD）和辅助电压
年龄检测器（ AVD ）的功能。它是由管理
在SICSR寄存器。
6.4.1低电压检测（ LVD ）
低电压检测功能（ LVD ） gener-
阿泰静态复位时， V
DD
电源电压是
下方的V
IT- （ LVD ）
参考值。这意味着
它固定在通电时以及在掉电
保持在复位的ST7 。
在V
IT- （ LVD ）
对于一个电压降参考值是
比V低
IT + （ LVD ）
对于加电的参考价值
上，以避免寄生的复位时
MCU开始运行，并吸收电流的支持
帘布层（滞后） 。
在LVD复位电路产生一个复位时
V
DD
如下图：
– V
IT + （ LVD ）
当V
DD
正在崛起
– V
IT- （ LVD ）
当V
DD
正在下降
LVD功能的说明
图15 。
所提供的最小V
DD
值（保证
振荡器的频率）为高于V
IT- （ LVD ）
中，
MCU只能在以下两种模式：
- 在完整的软件控制
- 静态安全复位
在这些情况下，安全的操作总是烯
sured为应用程序，而无需为前
ternal重置硬件。
在一个低电压检测复位，复位
引脚保持为低电平，从而使单片机复位
其他设备。
注意事项：
LVD的允许用户在没有任何要使用的设备
外部复位电路。
LVD的是一个可选功能，它能够被选择
通过选项字节进行选择。
因此建议以确保在V
DD
支持
帘布层的电压上升而单调时，该设备是
从复位状态退出，以确保应用程序功能
TIONS正常。
图15.低电压检测复位VS
V
DD
V
HYS
V
IT +
（ LVD ）
V
IT-
（ LVD ）
RESET
26/262
