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M48Z08 , M48Z18
数据保持方式
凭有效V
CC
施加时, M48Z08 / 18操作为
传统的单字节宽静态RAM 。应
电源电压的衰减,该RAM将automat-
ically电源故障取消,写自我保护
当V
CC
属于内伏
PFD
(最大值) ,V
PFD
(分钟)
窗口。所有输出变为高阻抗,并
所有的输入都被视为"don't care."
注意:
在写周期,电源故障可能
在当前位置寻址损坏的数据,
但不会危及在RAM的其余
内容。在低于V的电压
PFD
(分钟) ,用户可以
放心内存将在保护写入
状态,提供了V
CC
下降时间不大于吨以下
F
.
该M48Z08 / 18可为瞬态噪声回应
在V尖峰
CC
该伸入取消选择窗口
在当时的设备采样V
CC
。 There-
脱颖而出,电源线的去耦是消遣
ommended 。
当V
CC
低于V
SO
中,控制电路
开关电源内部的电池,预
提供的数据和权力的时钟。内部
扣式电池将保持的数据在M48Z08 / 18
至少为11年,当累计时间
V
CC
小于V
SO
。由于系统电源恢复和
V
CC
上升超过V
SO
时,电池被断开,
并且电源被切换到外部V
CC
.
写保护一直持续到V
CC
达到V
PFD
(分)加吨
REC
(分钟)。 应保持高为V
CC
上升超过V
PFD
(分钟) ,以防止意外的写入
之前,系统稳定周期。普通RAM
操作就可以恢复吨
REC
经过V
CC
超过
V
PFD
(最大值)。
有关电池的贮存寿命的更多信息请参考
应用笔记AN1012 。
系统电池寿命
电池在M48Z08的使用寿命/ 18
预计最终走到了尽头的一
原因有二:或者是因为它已经显示
同时提供电流以在RAM中带电
电池备份模式,或因影响
老龄化使电池没用之前它实际上可以
完全放电。这两种效应都
几乎无关,允许放电或容量
消费,老化或贮存的影响
生活中,可以视为两个独立但simulta-
neous机制。较早出现的故障
机构定义的电池系统寿命
M48Z08/18.
图9.预测电池贮存寿命与温度
AI01399
50
40
30
20
t1%
T50 % (平均)
10
岁月
8
6
5
4
3
2
1
20
30
40
50
60
70
80
90
温度(摄氏度)
9/18