位置：首页 > IC型号导航 > 首字符I型号页 > 首字符I的型号第499页 > IDT82V2108BB > IDT82V2108BB PDF资料 > IDT82V2108BB PDF资料2第243页
IDT82V2108 T1 / E1 / J1八FRAMER
产业
温度范围
T1 / J1 RPLC每通道配置寄存器
（ RPLC间接寄存器01H - 18H ）
位号
位名称
TYPE
默认
7
倒置
读/写
X
6
DTRKC
读/写
X
5
DMW
读/写
X
4
SIGNINV
读/写
X
3
TEST
读/写
X
2
EXTRACT
读/写
X
1
FIX
读/写
X
0
POL
读/写
X
反转：
这一点，与SIGNINV一起（B4 ， T1 / J1 - RPLC -间接寄存器 - 01 18H），确定相应的信道时的比特反转
从RSDn / MRSD引脚输出。
倒置
SIGNINV
位反转
0
0
无位反转
0
1
倒置相应信道的MSB
1
0
倒置相应信道的所有位
1
1
倒置的所有位，除了相应的信道的MSB
DTRKC ：
= 0：禁止在相应的信道的数据，以通过在DTRK设定的数据来代替[7： 0]（的b7 0 ，T1 / J1-19 30H）时，输出上
RSDn / MRSD引脚。
= 1：启用相应的信道的数据，以通过在DTRK设定的数据来代替[7： 0]（的b7 0 ，T1 / J1-19 30H）时，输出上
RSDn / MRSD引脚。
DMW ：
= 0：禁止在相应的信道的数据被替换为一个数字毫瓦图案时就RSDn / MRSD引脚输出。
= 1：启用相应的信道的数据被替换为一个数字毫瓦图案时就RSDn / MRSD引脚输出。
SIGNINV ：
请参阅反转（ B7 ， T1 / J1 -反相液相色谱 - 间接寄存器 - 01 18H ）
测试：
= 0：禁用相应的信道，以由PRGD进行测试的数据。
= 1：启用相应的信道的数据被提取到PRGD用于测试（当RXPATGEN [ B2中，T1 / J1-00FH ]是逻辑0 ） ，或使
从PRGD测试图案，以在相应的信道更换的数据为试验（当RXPATGEN [ B2中，T1 / J1-00FH ]为逻辑1） 。
所有被提取到PRGD的信道被连接在一起，并作为一个连续的数据流，其中伪随机地搜寻。
同样的，所有通道设置为被替换PRGD测试图形数据被串联所取代的PRBS 。
摘录：
该位在接收时钟从部分T1 / J1模式下有效：
= 0 ： RSCKn在其失活状态保持。
= 1： RSCKn被计时为对应的信道。
修复：
= 0：关闭对应通道的信令位被固定在POL设置的值时，就RSDn / MRSD引脚输出。
= 1：启用相应的信道的信令位，以固定与由POL设定的值时，就RSDn / MRSD引脚输出。
POL ：
当有效的解决方法是逻辑1 ：
= 0：固定的对应信道的信令位为逻辑0 。
= 1：固定的对应信道的信令位为逻辑1 。
在RSDn / MRSD引脚对应的通道，从高分到低分的反相液相色谱操作的优先级是：
提取数据到PRGD测试;替换DTRK与值数据[7： 0];替换为毫瓦模式中的数据;替换数据
在PRGD产生的图形;倒置的信道的比特;解决信令位。
243
