集成
电路
系统公司
ICS8304
L
OW
S
KEW
, 1-
TO
-4
LVCMOS / LVTTL F
ANOUT
B
UFFER
测试条件
最低
2
-0.3
V
DD
= V
IN
= 3.465V
V
DD
= 3.465V, V
IN
= 0V
-5
2.1
0.5
典型
最大
V
DD
+ 0.3
1.3
150
单位
V
V
A
A
V
V
T
ABLE
3D 。 LVCMOS / LVTTL DC
极特
,
V
DD
= 3.3V±5%, V
DDO
= 2.5V ±5％ ，T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
V
IH
V
IL
I
IH
I
IL
V
OH
参数
输入高电压
输入低电压
输入高电流
输入低电平电流
输出高电压;注1
输出低电压;注1
V
OL
注1 ：输出端接50
到V
DDO
/ 2 。参见参数测量部分，
"3.3V / 2.5V输出负载测试Circuit" 。
T
ABLE
4A 。 AC - C
极特
,
V
DD
= V
DDO
= 3.3V ±5％ ，T
A
= 0°C
TO
70°C
符号参数
f
最大
tp
LH
最大输出频率
传输延迟低到高;注1
输出偏斜;注2： 4
帕吨至帕吨倾斜;注3，注4
输出上升时间
输出下降时间
30 ％至70％
30 ％至70％
250
250
≤ 166MHz的
166MHz的< F
≤
189.5MHz
= 133MHz的
2.0
2.0
测试条件
最低
典型
最大
200
3.3
3.4
45
500
500
500
60
单位
兆赫
ns
ns
ps
ps
ps
ps
%
t
SK （ O）
t
SK （PP）的
t
R
t
F
ODC
输出占空比
f
≤
189.5MHz
40
在f测量所有参数
最大
除非另有说明。
注1 ：从V测
DD
输入到V / 2的
DDO
输出的/ 2 。
注2 ：定义为输出之间的偏移，在相同的电源电压，并以相等的负载条件。
测量V
DDO
/2.
注3 ：定义为扭曲在不同的设备输出，在相同的电源电压下工作的
并且以相同的负载条件。使用同一类型的每个设备上的输入，输出被测量
在V
DDO
/2.
注4 ：该参数定义符合JEDEC标准65 。
T
ABLE
4B 。 AC - C
极特
,
V
DD
= 3.3V±5%, V
DDO
= 2.5V ±5％ ，T
A
= 0°C
TO
70°C
符号参数
f
最大
tp
LH
最大输出频率
传输延迟低到高;注1
输出偏斜;注2： 4
帕吨至帕吨倾斜;注3，注4
输出上升时间
输出下降时间
30 ％至70％
30 ％至70％
250
250
≤ 166MHz的
166MHz的< F
≤
189.5MHz
= 133MHz的
2.3
2.15
测试条件
最低
典型
最大
189.5
3.7
3.55
60
500
500
500
60
单位
兆赫
ns
ns
ps
ps
ps
ps
%
t
SK （ O）
t
SK （PP）的
t
R
t
F
ODC
输出占空比
f
≤
189.5MHz
40
在f测量所有参数
最大
除非另有说明。
注1 ：从V测
DD
输入到V / 2的
DDO
输出的/ 2 。
注2 ：定义为输出之间的偏移，在相同的电源电压，并以相等的负载条件。
测量V
DDO
/2.
注3 ：定义为扭曲在不同的设备输出，在相同的电源电压下工作的
并且以相同的负载条件。使用同一类型的每个设备上的输入，输出被测量
在V
DDO
/2.
注4 ：该参数定义符合JEDEC标准65 。
8304AM
www.icst.com/products/hiperclocks.html
4
REV 。 F 2004年9月13日
