飞思卡尔半导体公司
JTAG一旦接口
1.13 JTAG一旦接口
特别是DSP56L307支持电路板的测试策略的基础上的DSP56300系列
IEEE 1149.1标准测试访问端口和边界扫描结构，
行业标准
IEEE的测试技术委员会和JTAG的赞助下开发的。
曾经模块提供了一种手段来与DSP56300芯和它的接口非侵入
外围设备，这样就可以检查寄存器，存储器或片上外设。曾经的职能
模块通过JTAG TAP信号提供。
对于编程模型，看到在调试支持的篇章
DSP56300系列手册。
表1-16 。
JTAG /一旦接口
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信号
名字
TCK
TDI
TYPE
输入
输入
状态
中
RESET
输入
输入
信号说明
测试时钟-A
测试时钟输入信号同步的JTAG
测试逻辑。
测试数据输入-A
测试数据串行输入信号测试
指令和数据。 TDI采样于TCK的上升沿
并且有一个内部上拉电阻。
测试数据输出-A
测试数据的串行输出信号，用于测试
指令和数据。 TDO被有源驱动的移位-IR和
移动-DR控制器状态。上的下降沿的TDO变化
TCK 。
测试模式选择，序列
测试控制器的状态
机。 TMS进行采样，在TCK的上升沿和有
内部上拉电阻。
测试复位初始化
测试控制器异步。 TRST
有一个内部上拉电阻。 TRST必须后置
通电。
调试事件作为
输入时，启动调试模式从
外部命令控制器，并为开漏输出，
承认，该芯片已进入调试模式。作为一个
输入， DE导致DSP56300内核来完成执行
当前指令，保存指令流水线的信息，
进入调试模式，并等待命令从进入
调试的串行输入线。此信号被置位为输出
为3个时钟周期，当芯片进入调试模式作为
的调试请求或满足断点的结果结果
条件。去有一个内部上拉电阻。
这个信号是不JTAG TAP控制器的标准部分。
该信号直接连接到模块一旦启动
调试方式直接或者提供一个直接的外部指示
该芯片已进入调试模式。所有其他接口与
一旦模块必须在通过JTAG口。
TDO
产量
三态
TMS
输入
输入
TRST
输入
输入
DE
输入/输出
（漏极开路）
输入
1-18
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