PD178076 ， 178078 ， 178096 ， 178098
CMOS设备的注释
1
ESD防护措施用于半导体
注意：
强电场，当暴露于一个MOS器件，可引起破坏栅氧化物和
从而影响设备的运行。因此必须采取措施制止产生的静电
尽可能地，立即释放一次出现时。环境控制
要足够。如果空气干燥，应当使用增湿器。建议避免使用
绝缘体，因为它们容易产生静电。半导体器件必须被存储和传输
移植在防静电容器，抗静电屏蔽袋或导电材料。
所有的测试和
测量工具包括工作台和工作面必须良好接地。操作人员应
使用腕带接地。半导体器件不能用手直接接触。类似
预防措施需要采取的PW板与半导体设备。
2
操作处置未使用的输入引脚的CMOS
注意：
对于CMOS设备的输入端未连接可导致误操作。如果未提供连接
到输入引脚，它可能是一个内部输入电平会由于噪声产生等，从而
从而导致故障。 CMOS器件的操作特性与Bipolar或NMOS设备。输入
CMOS器件的电平必须是固定的高或低的通过使用上拉或下拉电路。每
未使用的引脚应连接到V
DD
或GND之间的电阻，如果它被认为具有
可能性是输出引脚。所有处理与未使用的引脚必须判断设备
通过设备和相关规范管理的设备。
3
初始化之前的状态的MOS器件
注意：
上电，并不一定限定MOS器件的初始状态。 MOS的生产工艺
不定义该设备的初始操作状态。紧接之后的电源是
导，具有复位功能的装置还没有被初始化。因此，上电呢
不能保证输出引脚的电平， I / O设置和寄存器的内容。设备没有初始化之前
当接收到复位信号。复位操作必须立即上电后，为执行
具有复位功能的设备。
购买NEC的我
2
C组分传达了飞利浦I根据许可
2
C的专利权利，在我使用这些组件
2
C
系统，该系统提供符合我
2
C标准规范由飞利浦定义。
IE总线是NEC Corporation的注册商标。
Windows是在美国和/或者注册商标或Microsoft Corporation的商标。
或其他国家。
PC / AT是IBM公司的一个注册商标。
HP9000系列700和HP- UX是惠普公司的注册商标。
SPARC工作站是SPARC International ， Inc.的商标。
。Solaris和SunOS是Sun Microsystems ， Inc.的商标。
新闻和新闻-OS是Sony公司的商标。
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数据表U12885EJ3V0DS00
