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ICL3221E ， ICL3222E ， ICL3223E ， ICL3232E ， ICL3241E ， ICL3243E
互联与3V和5V逻辑
该ICL32XX与5V CMOS和TTL逻辑直接接口
家庭。然而，与ICL32XX在3.3V，并且逻辑
电源为5V ， AC ，HC和CD4000输出可以驱动ICL32XX
输入，但ICL32XX输出不会达到最小V
IH
为
这些逻辑系列。见表4以获取更多信息。
与不同的表4.逻辑系列兼容
电源电压
系统POWER-
电源电压V
CC
供应
(V)
电压（V）的
3.3
5
5
3.3
5
3.3
通过1.5kΩ限流电阻器提供的电荷，
使测试比IEC61000的测试不太严重的这
利用一个330Ω的限流电阻。 HBM的方法
确定一个IC的承受ESD瞬变的能力
处理和制造过程中通常存在。由于
这些事件的随机性质，每个引脚与测试
对于所有其他引脚。在RS - 232针脚上的“ E”系列
装置能承受的HBM ESD事件
±15kV.
IEC61000-4-2测试
在IEC61000的测试方法适用于成品设备，
而不是一个单独的集成电路。因此，销最可能
遭受ESD事件是那些暴露于
外界（通过RS-232的引脚在这种情况下） ，并且该IC是
其典型应用配置下进行测试（电源应用）
而不是测试每个引脚到引脚的组合。低
限流电阻再加上较大的电荷
储能电容产生一个测试，远较更严重
HBM的测试。内置这种额外的ESD保护
设备的RS -232的引脚允许设备的设计
达到4级标准，而无需额外的电路板
在RS - 232端口级的保护。
空气间隙放电试验方法
对于此测试方法中，一个电荷的探针尖端移向
集成电路引脚直至电压圆弧到它。的电流波形
传送到IC引脚取决于进场着陆速度
湿度，温度等，所以难以得到
可重复的结果。在“E”器件RS - 232引脚承受
±15kV
空气间隙放电。
接触放电测试方法
在接触放电测试，探针接触
探针针尖之前测试销通电，由此
消除与气隙有关的变量
放电。其结果是一个更加可重复和可预测
测试，但设备的限制防止在电压测试设备
高于
±8kV.
所有的“ E”系列器件生存
±8kV
联系
排出的RS- 232的引脚。
兼容性
兼容所有CMOS
家庭。
兼容所有TTL和
CMOS逻辑系列。
兼容ACT和HCT
CMOS ，并与TTL 。 ICL32XX
输出不兼容
交流，HC和CD4000的CMOS
输入。
±15kV
ESD保护
在ICL32XX设备上的所有引脚，包括ESD保护
结构，但ICL32XXE系列集成了先进的
结构允许的RS - 232引脚（发送器输出
和接收器输入）生存ESD事件最多
±15kV.
该
RS - 232针脚特别容易受到ESD的损害
因为它们通常连接到一个暴露的端口上
外部的网络连接nished产品。只需触摸口
针，或连接电缆，可以引起的ESD事件
可能会破坏未受保护的集成电路。这些新型ESD结构
保护装置是否通电时，保护
而不允许任何闭锁机制，激活和
不带RS- 232信号一样大的干扰
±25V.
人体模型（ HBM ）测试
顾名思义，这种测试方法模拟了静电放电
人的处理过程中的事件传递到一个集成电路。该测试仪
典型性能曲线
6
发送器输出电压（ V）
4
2
0
-2
-4
-6
V
CC
= 3.3V ，T
A
= 25°C
25
V
OUT
+
压摆率（ V / MS ）
20
1变送器在250kbps
1或2变送器AT 30kbps
15
-SLEW
+ SLEW
10
V
OUT
-
5
0
1000
2000
3000
4000
5000
0
1000
负载电容（PF ）
2000
3000
负载电容（PF ）
4000
5000
图13.发射机输出电压与负载
电容
图14.压摆率与负载电容
15
FN4910.18
2005年3月8日
