位置：首页 > IC型号导航 > 首字符I型号页 > 首字符I的型号第961页 > IDT49C465PQFB > IDT49C465PQFB PDF资料 > IDT49C465PQFB PDF资料1第15页
IDT49C465/A
32位FLOW- THRU错误检测和纠正单位
军用和商用温度范围
术语的定义：
D
0
– D
31
CBI
0
- CBI
7
PCBI
0
- PCBI
7
FS
0
= FS
7
=
=
=
=
系统数据和/或存储器中的数据输入
校验字输入
部分校验字输入
最终内部综合症位
CMOS测试考虑
特殊的测试板的考虑，必须考虑到
账号申请高速CMOS产品的时候
自动测试环境。大输出电流为
切换很短的时间和正确的测试要求
该测试设置有最小电感和保证
零电压的理由。下面列出的技术将帮助
获得精确的测试结果，用户：
1）所有的输入端子应连接到一个电压电势
在测试过程中。如果悬空，设备可能发生振荡，
造成不当的设备操作和可能的闭锁。
2 ）布局和去耦电容值是至关重要的。
每个物理的建立具有不同的电
特征和建议的各种
去耦电容的大小进行试验了。
电容应使用最小导线定位
长度。他们也应发给脱钩
电源线和被放置在尽可能靠近，以
DUT的电源引脚。
3 ）设备的接地是正确的设备非常关键
测试。与使用多层电路板的性能
电源和地平面之间的径向解耦
有必要的。接地平面必须从维持
性能板到DUT接口板和接线
未使用的互连引脚到地平面是中建议
谁料。重型绞线应当用于
电源线，用双绞线被推荐
最小电感。
4 ）为了保证数据表达标，输入阈值
应在静态环境中每个输入引脚进行测试。对
可用于测试和硬件引起的噪音， IDT recom-
门兹用V
IL
≤
0V和V
IH
≥
3V的交流测试。
函数方程：
下面的等式描述了所使用的术语
IDT49C465以确定局部checkbits的值
checkbits ，局部综合征和最终内部综合征。
注：所有“ ⊕ ”的符号表示“ EXCLUSIVE-
或“的函数。
PA = D
0
⊕
D
1
⊕
D
2
⊕
D
4
⊕
D
6
⊕
D
8
⊕
D
10
⊕
D
12
⊕
D
16
⊕
D
17
⊕
D
18
⊕
D
20
⊕
D
22
⊕
D
24
⊕
D
26
⊕
D
28
PB = D
0
⊕
D
3
⊕
D
4
⊕
D
7
⊕
D
9
⊕
D
10
⊕
D
13
⊕
D
15
⊕
D
16
⊕
D
19
⊕
D
20
⊕
D
23
⊕
D
25
⊕
D
26
⊕
D
29
⊕
D
31
PC = D
0
⊕
D
1
⊕
D
5
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
11
⊕
D
12
⊕
D
13
⊕
D
16
⊕
D
17
⊕
D
21
⊕
D
22
⊕
D
23
⊕
D
27
⊕
D
28
⊕
D
29
PD = D
2
⊕
D
3
⊕
D
4
⊕
D
5
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
14
⊕
D
15
⊕
D
18
⊕
D
19
⊕
D
20
⊕
D
21
⊕
D
22
⊕
D
23
⊕
D
30
⊕
D
31
PE = D
8
⊕
D
9
⊕
D
10
⊕
D
11
⊕
D
12
⊕
D
13
⊕
D
14
⊕
D
15
⊕
D
24
⊕
D
25
⊕
D
26
⊕
D
27
⊕
D
28
⊕
D
29
⊕
D
30
⊕
D
31
PF = D
0
⊕
D
1
⊕
D
2
⊕
D
3
⊕
D
4
⊕
D
5
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
24
⊕
D
25
⊕
D
26
⊕
D
27
⊕
D
28
⊕
D
29
⊕
D
30
⊕
D
31
PG = D
8
⊕
D
9
⊕
D
10
⊕
D
11
⊕
D
12
⊕
D
13
⊕
D
14
⊕
D
15
⊕
D
16
⊕
D
17
⊕
D
18
⊕
D
19
⊕
D
20
⊕
D
21
⊕
D
22
⊕
D
23
PH
0
= D
0
⊕
D
4
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
8
⊕
D
9
⊕
D
11
⊕
D
14
⊕
D
17
⊕
D
18
⊕
D
19
⊕
D
21
⊕
D
26
⊕
D
28
⊕
D
29
⊕
D
31
PH
1
= D
1
⊕
D
2
⊕
D
3
⊕
D
5
⊕
D
8
⊕
D
9
⊕
D
11
⊕
D
14
⊕
D
17
⊕
D
18
⊕
D
19
⊕
D
21
⊕
D
24
⊕
D
25
⊕
D
27
⊕
D
30
PH
2
= D
0
⊕
D
4
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
10
⊕
D
12
⊕
D
13
⊕
D
15
⊕
D
16
⊕
D
20
⊕
D
22
⊕
D
23
⊕
D
26
⊕
D
28
⊕
D
29
⊕
D
31
11.7
15
