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数据变化
日志对于ATmega162的
从牧师的变化
2513E - 9月3日至启
2513F-12/03
从牧师的变化
2513D -12/ 03牧师
2513E-09/03
请注意，本节中引用的页面数是指该文档
换货。在本节中提到的修订是指对文件的修订。
1.更新“标定的片内RC振荡器”第36页。
从表1中删除“初步” 。
2.补充说明在图1第2页。
3.重命名和更新的“片上调试系统”，以“JTAG接口和
片上调试系统“第44页。
4.更新表18第47页，表19的第49页上。
5.更新了“测试访问端口 - TAP ”关于JTAGEN第196页上。
6.更新说明第206页上的JTD位。
7.补充说明对JTAGEN表100 232页。
8.更新绝对最大额定值*和DC中的“电气特性
263页的特性“ 。
9.增加了一个建议，关于JTAG指令解决问题
313页IDCODE中的“勘误表” 。
从牧师的变化
2513C - 9月2日至启
2513D-04/03
1.更新了309页的“订购信息”和“封装信息
化“ 310页。
2.更新了第1页上的“功能” 。
3.添加了特性曲线下的“ ATmega162的典型特征”
页274 。
4.增加了芯片擦除为259页的“对Flash进行编程”下的第一步
和“ EEPROM编程” 261页。
5.改变CAL7 ，在OSCCAL寄存器的最高位，为保留位上
303页的第37页和“注册摘要” 。
6.改变公民教育委员会，以CLKPCE 39页。
7.修正了代码示例第54页。
8.修正限时OCn波形图52 119页。
9.各种小的定时器更正。
223页的“装载临时缓冲器（页加载） ”在10补充说明
大约在SPM页加载写入EEPROM中。
314
ATmega162/V
2513F–AVR–12/03
