ADT7518
术语
相对精度
相对精度或积分非线性（ INL ）是衡量
最大偏差，单位为LSB ，从直线传球
通过传递函数的端点。典型的INL
对代码图可以在图10中可以看出，图11，和
图12 。
微分非线性
微分非线性（ DNL ）之间的区别
测得变化任意两个之间的理想的1 LSB变化
相邻码。 ± 0.9 LSB的额定微分非线性
最大保证单调性。典型的DAC DNL与代码
图可以看出，在图13中，图14和图15 。
总非调整误差（ TUE ）
总非调整误差是一个全面规范
包括相对精度误差的总和，增益误差，和
特定条件下设定的偏移误差。
偏移误差
这是DAC和输出偏移误差的测量
放大器（参见图8和图9）。它可以是负的或
正的，并且它被以mV为单位。
偏移误差匹配
这是任意两个信道之间的偏移误差的差别。
增益误差
这是DAC的量程误差的量度。它是
在实际DAC传递特性的斜率偏差
从用满量程范围的百分比的理想。
增益误差匹配
这是任意两个信道之间的增益误差的差别。
失调误差漂移
这是偏移误差的变化的变化的量度
温度。它表现在（ ppm的满量程范围） / ℃。
增益误差漂移
这是在增益误差随变化的量度
温度。它表现在（ ppm的满量程范围） / ℃。
LONG TERM温度漂移
这是在温度误差随时间的变化的量度。
它以℃。的长期稳定性的概念已经
使用多年描述量的集成电路的参数
它的生命周期中移动。这是一种具有典型的是概念
被施加到两个电压基准和单片TEMP-
erature传感器。不幸的是，集成电路不能
在室温（ 25℃）下进行10年左右的时间来评价
确定这种转变。生产厂家进行加速寿命
集成电路通过在升高的TEMP-操作集成电路的测试
eratures （在125 ℃和150 ℃），在较短的时间
（典型地在500和1000个小时）。其结果是，在寿命
的集成电路由于显著加速
增加在半导体材料内的反应的速率。
直流电源抑制比（ PSRR ）
这表示DAC的输出如何受的变化
在电源电压。 PSRR是在V中的变化的比值
OUT
to
在V的变化
DD
对于DAC满量程输出。据测定
以dB为单位。 V
REF
保持在2 V和V
DD
而变化±10％。
直流串扰
这是在一个DAC响应的输出电平的直流变化
在另一个DAC的输出的变化。它是衡量一个
同时对另一个在一个DAC满量程输出变化
DAC 。它以μV 。
参考穿心
这是在DAC的信号的幅度的比值输出
放于参考输入时，DAC输出是不是被
更新（即LDAC为高电平） 。它是用dB表示。
通道到通道隔离
这是信号的振幅的输出的比率
一个DAC到另一个DAC的参考输入的正弦波。
它的单位是分贝。
主要代码跳变毛刺能量
主要代码跳变毛刺能量是冲动的能量
注入模拟输出时，在DAC的代码
注册状态变化。它通常被指定为的面积
毛刺用nV- s和当数字码被改变被测量
1 LSB在主进位跃迁（ 011 ... 1到100 ... 00或
100 ... 00到011 ... 11 ） 。
数字馈通
数字馈通是衡量冲动注入
一个数模转换器的距离的数字输入管脚的模拟输出
设备，但在DAC没有被写入到被测量。它
为nV - s和测量方法是让一个全面的变化
数字输入引脚，即全0至全1 ，反之亦然。
数字串扰
这是传送到一个DAC的输出的毛刺脉冲
在响应满量程编码变化中间值（全0至全
1，并且反之亦然），在另一个DAC的输入寄存器。这是
在独立模式下测量，并用nV -S 。
模拟串扰
这是传送到一个DAC的输出的毛刺脉冲
由于在另一个DAC的输出的变化。它是由测得的
加载输入寄存器中有一个满刻度代码变化
（全0至全1 ，反之亦然），同时保持LDAC高。然后
脉冲LDAC低，监测的DAC ，其输出
数字代码没有改变。毛刺的面积表示
以nV -S 。
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