AD5207
测试电路
图10至18中定义的产品中使用的测试条件
规格表。
DUT
A
V+
B
W
V
MS
V+ = V
DD
1 LSB = V + / 2
N
OFFSET
GND
V
IN
W
5V
OP279
V
OUT
A
DUT
B
失调偏置
图10.电位分压器非线性误差测试
电路（ INL ， DNL ）
无连接
DUT
A
W
B
V
MS
I
W
图15.同相增益测试电路
A
W
V
IN
OFFSET
GND
DUT
B
2.5V
+15V
OP42
–15V
V
OUT
图11.电阻位置非线性误差（变阻器
操作; R- INL ， R- DNL ）
图16.增益与频率测试电路
DUT
DUT
V
MS2
A
W
B
V
MS1
V
W
I
W
= V
DD
/R
公称
B
W
I
SW
R
SW
=
0.1V
I
SW
H
CODE =
+
0.1V
–
R
W
= [V
MS1
– V
MS2
]/I
W
V
SS
到V
DD
图12.抽头电阻测试电路
图17.增量导通电阻测试电路
NC
V
A
V
DD
V+
B
V
MS
V
DD
DUT
A
W
GND
B
V
CM
I
CM
A
W
V+ = V
DD
10%
V
MS
V
DD
V
SS
电源抑制比（分贝）= 20的LOG
PSS （％/ ％）=
V
MS
%
V
DD
%
NC
NC =无连接
图13.电源灵敏度测试电路
（ PSS ， PSSR ）
A
DUT B
5V
W
V
IN
OFFSET
GND
失调偏置
OP279
V
OUT
图18.共模漏电流测试电路
图14.反相增益测试电路
–12–
第0版
