LC72136 ， 72136M
方案中，死区的存在（ OFF / OFF ）具有良好的循环稳定性，但具有获取的问题
高C / N比是困难的。另一方面，虽然可以很容易获得一个高的C / N比与方案
其中没有死区，这是难以实现的高的环路稳定性。因此，它可有效地选择DZA
或DZB ，它们没有死区，在应用程序需要在过量的90100分贝，或在一个FM的S / R比
其中增加的调幅立体声导频余量是期望的。在另一方面，我们建议选择DZC或者DZD ，
它们提供了死区，对于应用不要求那么高的FM信号 - 噪声比，并在其中
或者调幅立体声不使用或适当的调幅立体声导频余量就可以实现。
死区
相位比较器比较FP到一个基准频率（FR ），为如图4所示。尽管对特性
此电路（见图5） ，使得输出电压正比于相位差直径（线A ），区域
（死区），其中，不可能以比较小的相位差出现在实际的集成电路由于内部
电路的延迟等因素的影响（ B线） 。一个死区尽可能小是理想的产品必须提供
高S / N比。
然而，由于较大的死区，使该电路更容易使用，较大的死区是适当的popularly-
价位的产品。这是因为它有可能为RF信号，从混频器泄漏到VCO和调制
VCO在强RF输入存在普遍价位产品。当死区变窄，电路
输出的校正脉冲，该输出可以进一步调节压控振荡器，并生成与所述RF拍频
信号。
图4
图5
在FMIN ，阿明和IFIN引脚2注
耦合电容必须放置在尽可能靠近各自的引脚。大约100 pF的电容是
可取的。特别是，如果在1000 pF或者超过一个电容被用于对IF销，所述的时间到达偏置电平将
增加和不正确的数量可能由于与等待时间之间的关系发生。
如果计算3注
→
SD必须与中频计数时间一起使用
当使用IF计数，始终贯彻IF通过其微处理器计算确定的存在
IF -IC SD （站检测）信号，并打开只有当SD信号存在的中频计数器缓冲区。方案，其中
自动搜索与只有当计数不建议进行的，因为他们可以在点停止哪里有
没有由于从IF计数器缓冲区泄漏的输出信号。
第5038-21 / 23
