MPS2907A
输入
ZO = 50
PRF = 150 PPS
上升时间
≤
2.0纳秒
P.W. < 200纳秒
0
-16 V
200纳秒
50
1.0 k
-30 V
200
到示波器
上升时间
≤
5.0纳秒
输入
ZO = 50
PRF = 150 PPS
上升时间
≤
2.0纳秒
P.W. < 200纳秒
0
-30 V
200纳秒
+15 V
-6.0 V
37
到示波器
上升时间
≤
5.0纳秒
1N916
1.0 k
1.0 k
50
图1.延迟和上升时间测试电路
图2.存储和下降时间测试电路
典型特征
3.0
的hFE ，标准化的电流增益
2.0
VCE = -1.0 V
VCE = -10 V
TJ = 125°C
25°C
1.0
0.7
0.5
0.3
0.2
-0.1
-0.2 -0.3
-0.5 -0.7 -1.0
-2.0
-3.0
-5.0 -7.0
-10
-20
-30
-50 -70 -100
-200 -300
-500
-55°C
IC ，集电极电流（毫安）
图3.直流电流增益
VCE ，集电极 - 发射极电压（伏）
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0
-0.005
IC = -1.0毫安
-10毫安
-100毫安
-500毫安
-0.01
-0.02 -0.03 -0.05 -0.07 -0.1
-0.2 -0.3 -0.5 -0.7 -1.0
IB ，基极电流（毫安）
-2.0
-3.0
-5.0 -7.0 -10
-20 -30
-50
图4.集电极饱和区
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