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飞利浦半导体
产品speci fi cation
双4输入多路复用器(三态)
74F253
DC电气特性
(在推荐工作的自由空气的温度范围内,除非另有说明。 )
范围
符号
参数
测试条件
NO TAG
V
CC
=最小,V
IL
=最大,
,
,
V
IH
=最小,我
OH
=最大
V
CC
=最小,V
IL
=最大,
,
,
V
IH
=最小,我
OL
=最大
V
CC
=最小,我
I
= I
IK
V
CC
=最大,V
I
= 7.0V
V
CC
=最大,V
I
= 2.7V
V
CC
=最大,V
I
= 0.5V
V
CC
=最大,V
O
= 2.7V
V
CC
=最大,V
O
= 0.5V
V
CC
=最大
OEN = GND , SN =中= 4.5V
V
CC
=最大
OEN = SN =中= GND
OEN = 4.5V , SN =中= GND
–60
10
12
14
典型值
NO TAG
单位
最大
V
V
O
OH
高位
高电平输出电压
±
10%V
CC
±
5%V
CC
±
10%V
CC
±
5%V
CC
2.4
2.7
3.3
0.35
0.35
–0.73
0.50
0.50
–1.2
100
20
–0.6
50
–50
–150
16
23
23
V
V
V
V
A
A
mA
A
A
mA
mA
mA
mA
V
O
OL
V
IK
I
I
I
IH
I
IL
I
OZH
I
OZL
I
OS
I
CC
低电平
低电平输出电压
输入钳位电压
输入电流在最大输入
电压
高层次的输入电流
低电平输入电流
关态输出电流
高电平电压施加
关态输出电流
低电平电压施加
输出短路电流
NO TAG
I
CCH
电源电流(总)
I
CCL
I
CCZ
注意事项:
1.对于显示为MIN和MAX的条件下,使用推荐的工作条件下指定适用的类型适当的值。
2.所有典型值是在V
CC
= 5V ,T
AMB
= 25°C.
3.不能有多于一个的输出应在同一时间被短路。为了测试我
OS
中,使用高速测试装置和/或采样和保持的
技术是优选的,以便最小化内部加热和更准确地反映工作值。否则,长时间短路
高输出可提高芯片的温度远高于正常,从而造成的无效读数等参数的测试。在任何
参数测试序列,我
OS
试验应在最后完成。
1988年11月29日
5

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