MITSUMI
CMOS系统复位PST3XXX
操作描述
(1) V
DD
> VS ，V
OUT
：H （ M 1 ：开，M2，M3 ：关）
当V
DD
逐渐从上述状态下降时，检测电压为如下。
检测电压： （R1 + R2 + R3 ）/（ R2 + R3 ）V REF
(2) V
DD
< VS ，V
OUT
方法：L（ M 1 ：关， M2，M3 ： ON）的
当V
DD
逐渐从上述状态上升，释放电压如下。
释放电压= （R1 + R2 ）/（ R2 ）V REF
（ 3 ）滞后电压= （释放电压） - （检测电压） 。
（4）当V
DD
下降和低于最低工作电压，输出是不确定的;当输出
拉起，输出变为V
DD
.
（ 5 ） VREF和检测电阻器
1）基准电压源（ VREF ）本IC为0.8V （典型值） 。这给了出色的低功耗
和温度特性。
2）高电阻方法用于电阻R1，R2和R3 ，以实现低功耗的电流为
该IC 。
（ 6 ）通过电流瞬时检测和释放。当使用高V
DD
引脚阻抗的
通过电流可能引起振荡。
通过外部设置（举例）检测电压变化
*
该集成电路的输入电压波动因
*
通过电流R11的电压降，以及
的振荡状态下的检测和
释放时重复，可能会发生。
随着CMOS输出类型，不要因为使用
在左侧图中示出。
