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QL4016 QuickRAM数据手册Rev我
JTAG
TCK
TMS
TRSTB
TAP控制器
状态机
（ 16个国家）
指令译码
＆放大器;
控制逻辑
指令寄存器
RDI
MUX
边界扫描寄存器
（数据寄存器）
MUX
TDO
绕行
注册
国内
注册
I / O寄存器
用户定义的数据寄存器
图10 ： JTAG框图
微处理器和专用集成电路（ASIC ），提出了许多设计
的挑战。这些挑战之一涉及的测试点的可访问性。联合测试
访问组（JTAG）形成在应对这一挑战，导致IEEE标准
1149.1 ，在标准测试访问端口和边界扫描结构。
JTAG边界扫描测试方法可以完成观察的控制
一个JTAG兼容的器件通过JTAG软件边界引脚。测试访问端口
（ TAP）控制器协同工作与指令寄存器（IR ） ;这允许用户运行
3要求的测试，以及几个用户定义的测试。
JTAG测试允许用户降低系统的调试时间，重复使用的测试平台和工具，再利用
子系统测试的更高层次的系统要素更充分的验证。
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