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SAB 80C517 / 80C537
ROM特性验证
T
A
= 25C
±
5C;
V
CC
= 5 V
±
10%;
V
SS
= 0 V
参数
符号
限值
马克斯。
单位
ROM验证
地址有效数据
ENABLE有效数据
t
AVQV
t
ELQV
0
4
48
t
CLCL
48
t
CLCL
48
t
CLCL
6
ns
ns
ns
兆赫
数据浮动启用后,
t
EHQZ
振荡器频率
1/t
CLCL
ROM验证
用于定时目的端口引脚不再浮动时,负载电压为100 mV发生变化,并开始
浮动时,从所加载的一个100毫伏的变化
V
OH
/
V
OL
级别发生。
I
OL
/
I
OH
≥ ±
20毫安。
半导体集团
59

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