接触放电模块
R
C
R
C
SW1
SW1
直流电源
来源
R
S
R
S
R
V
SW2
SW2
C
S
C
S
设备
下
TEST
R
S
和R
V
加至330
f
or
IEC1000-4-2.
为330Ω
图8. ESD测试电路IEC1000-4-2
与空气放电法，静电放电电压
通过测试（ EUT）施加到设备
空气中。这模拟带电的人
准备一个电缆连接到系统的后
才发现之前的不愉快的ZAP
人接触的背面板。高能量
对人的潜在排出通过
电弧放电路径到系统的后面板他之前
或者她甚至接触到系统中。这种能量，
无论是直接或通过空气排出，是
放电电流的主要功能
而不是放电电压。与变量
空气放电等的进场速度
对象实现ESD电压加载到系统
和湿度将趋于改变放电
电流。例如，放电的上升时间
目前随进近速度。
接触放电法通过将ESD
目前直接向EUT 。此方法是
设计以减少静电放电的不可预测性
弧线。该放电电流的上升时间是恒定
由于能量被直接传送而不
气隙弧。在诸如手持式系统的情况下，
防静电电荷可直接排放到
从一个人已经持有的设备
设备。电流转移到
键盘或设备的直接的串行端口
然后通过PCB板最终到达IC 。
30A
15A
0A
t=0ns
t=30ns
t
图9. ESD测试波形的IEC1000-4-2
在该电路模型
图7
和
8
代表
用于所有三个典型的ESD测试电路
的方法。了C
S
最初被控直流
电源时，所述第一开关（SW1 ）为ON 。
现在，该电容器被充电时，第二
开关（SW2 ）为ON时SW1断开。该
电压存储在电容器中，然后应用
通过研究
S
中，限流电阻，上
被测器件（DUT ）的设备。在ESD测试中， SW2
由脉冲信号控制，使得被测设备
接收电压的持续时间。
SP207EDS/09
SP207E系列高性能RS232收发器
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