PEB 2447
功能说明
扩展的TAP控制器使用一个修改的数据路径：
表4
4位TAP控制器的数据路径
指令码
11xx
00xx
0011
01xx
10xx
输入
TDI
BSOUT
BSOUT_ID
TDI2 ： STAR ： STOK （内部）
TDI3 ：VSS （未使用的，内部的）
数据路径
→
→
→
→
→
产量
TDO
TDO
TDO
TDO
TDO
当TAP_TEST1 / 2被激活时，数据路径设置为自检的结果移位
步骤（比特STAR ： STOK ）出通过TDO引脚。
2.3.3
使用通过边界扫描接口内置自测
内置自测试所使用的以下步骤：
- 指令TAP_TEST2移入TAP控制器（见
图4）
- STP指令移入自检控制寄存器（见
表5
和
图5）
- 指令TAP_TEST1移入TAP控制器来启动自检
（见
图6）
经过10240 TCK周期：
- 位明星： STOK可以移出（见
图7）
.
表5
4位自检控制寄存器
位
ST [ 0]
ST [1]
ST [2]
ST [3]
功能
CMDR ： STP0
CMDR ： STP1
CMDR ： STP2
“ 1 ”建在自检
“0”，没有内置的自检
注： ST [ 2 ： 0 ]所代表的位CMDR ： STP2..0但不覆盖它们。
半导体集团
19
03.97
