ADG511/ADG512/ADG513
测试电路
I
DS
V1
I
S
（关闭）
S
V
S
D
V
S
R
ON
= V1 / I
DS
A
S
D
I
D
（关闭）
A
V
D
V
S
I
D
（上）
S
D
A
V
D
1.导通电阻
2.关闭泄漏
3.在漏
V
DD
0.1 F
3V
V
DD
S
V
S
D
R
L
300
GND
V
SS
V
OUT
C
L
35pF
V
IN
V
IN
ADG511
3V
ADG512
50%
90%
V
OUT
50%
90%
50%
50%
IN
0.1 F
V
SS
t
ON
t
关闭
4.开关时间
V
DD
0.1 F
3V
V
DD
V
S1
V
S2
S1
S2
IN1，IN2
GND
V
SS
D1
D2
R
L2
300
V
OUT2
C
L2
35pF
V
OUT2
0V
0.1 F
V
SS
90%
90%
R
L1
300
C
L1
35pF
V
OUT1
V
OUT1
0V
V
IN
0V
50%
90%
50%
90%
V
IN
t
D
t
D
5.休息前先延时
V
DD
3V
V
DD
R
S
V
S
S
D
C
L
10nF
V
OUT
GND
V
SS
V
SS
Q
INJ
= C
L
V
OUT
V
OUT
V
OUT
V
IN
IN
6.电荷注入
版本B
–9–
