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ADF4360-3
MUXOUT和锁定检测
上ADF4360家族的输出多路转换器允许用户
访问该芯片上的各种内部点。状态
MUXOUT由M3 ，M2和M1的功能控制
锁存器。全真值表显示在表7中。图13示出了
以方框图形式的MUXOUT部分。
表5. C2和C1真值表
C2
0
0
1
1
控制位
C1
0
1
0
1
锁定检测
MUXOUT可以被编程为两种类型的锁的检测：
数字和模拟。数字锁定检测为高电平有效。当LDP
在R计数器锁存器被设置为0，数字锁定检测，则设定为高
当在3个连续相位检测周期中的相位误差
小于15纳秒。
与LDP设置为1，五个连续的小于15纳秒的周期
所需的相位误差，设置锁定检测。它将保持该状态
高，直到大于25纳秒的相位误差被上检测到的任何
随后PD周期。
N沟道开漏模拟锁定检测应该是能操作
ated为10 kΩ的标称外部上拉电阻。当
锁已被检测到，则该输出将是高的窄
低脉冲。
DV
DD
控制锁存
v计数器
N计数器（ A和B）
测试模式锁存
VCO
在ADF4360系列的VCO核心采用8重叠
带，如图14 ，以允许在较宽的频率范围，以
被覆盖而不需要大的VCO的灵敏度（K
V
），并得到
可怜的相位噪声和杂散性能。
正确的带自动选择由乐队选择
逻辑上电时，或者当N计数器锁存器被更新。它
重要的是将正确的写序列随后在
电。这个序列是
1.
2.
3.
v计数器锁存
控制锁存
N计数器锁存
模拟锁定检测
数字锁定检测
v计数器输出
N计数器输出
SDOUT
04414-0-013
在频段选择，这需要5 PFD周期中， VCO V
TUNE
从该环路滤波器的输出端断开，并且连接
与内部参考电压。
MUXOUT
3.3
3.1
2.9
2.7
2.5
2.3
电压（V）的
MUX
控制
DGND
2.1
1.9
1.7
1.5
1.3
1.1
0.9
0.7
0.5
1350
1450
1550
1650
1750
1850
1950
2050
04437-0-007
图13. MUXOUT电路
输入移位寄存器
该ADF4360系列的数字部分包括一个24位输入
移位寄存器，14位R计数器和一个18位N计数器，
由一个5位计数器和一个13位B计数器。数据
移入在CLK的每个上升沿的24位移位寄存器。
该数据被移入MSB在前。数据被从传输
移位寄存器来对LE的上升沿四个锁存器之一。该
目的地锁存器由两个控制的状态确定
位（C2 ， C1），在移位寄存器中。这是两个LSB -DB1 ，
DB0 -如在图2中示出。
这些位的真值表被示于表5表6示出了
如何锁存器被编程的一个总结。需要注意的是
测试模式锁存器是用于工厂测试，不应该
由用户编程。
频率（MHz）
图14.频率与V
TUNE
， ADF4360-3
R计数器输出作为时钟进行频带选择逻辑
且不应超过1兆赫。提供可编程分频器
在R计数器的输入，以允许除以1 ，2，4 ，或8是传
由位BSC1和BSC2在R计数器锁存控制。凡
需要PFD频率超过1 MHz时，分频比应为
设置足够的时间让正确的波段选择。
之后乐队选择，正常的PLL操作恢复。标称值
钾
V
为45MHz / V或23兆赫/ V如果除以2的操作已
选择（通过编程DIV2 （ DB22 ）高的N计数器
锁存器） 。该ADF4360系列包含线性化电路
尽量减少我的产品的任何变化
CP
和K
V
.
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