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DAC6574
SLAS408 - 2003年12月
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这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成
电路与适当的预防措施进行处理。如果不遵守正确的操作和安装
程序会造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精确
集成电路可能更容易受到损害，因为非常小的参数变化可能
导致设备不能满足其公布的规格。
封装/订购信息
产品
包
包
制图
数
DGS
规范
温度
范围
-40 ° C至+ 105°C
包
记号
D674
订购
数
DAC6574IDGS
DAC6574IDGSR
传输介质
DAC6574
10-MSOP
80管件
2500件磁带和卷轴
DGS包装
（ TOPVIEW ）
针
名字
V
OUT
A
V
OUT
B
GND
V
OUT
C
V
OUT
D
SCL
SDA
V
DD
A0
A1
引脚说明
描述
从DAC A的模拟输出电压
来自DAC B的模拟输出电压
对所有电路接地参考点
部分
来自DAC C模拟输出电压
来自DAC D模拟输出电压
串行时钟输入
串行数据输入和输出
模拟电源电压输入
设备地址选择 - 我
2
C
设备地址选择 - 我
2
C
V
OUT
A
V
OUT
B
GND
1
2
3
DAC6574
10 A1
9 A0
8 V
DD
7 SDA
6 SCL
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
V
OUT
C 4
V
OUT
D 5
.
绝对最大额定值
(1)
V
DD
到GND
数字输入电压至GND
V
OUT
到GND
工作温度范围
存储温度范围
结温范围（T
J
MAX ）
功耗：
焊接温度，焊接：
热阻抗（ ΘJA ）
热阻抗（ ΘJC ）
气相（ 60秒）
红外（ 15S ）
(1)
0.3 V至6 V
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
-40 ° C至+ 105°C
-65 ° C至+ 150°C
+150°C
270°C/W
77°C/W
215°C
220°C
注意，超出上述绝对最大额定值可能会导致器件永久性损坏。暴露在绝对
最大的条件下长时间可能会影响器件的可靠性。
2
