AD5161
测试电路
图27至图35示出了测试电路定义
测试条件在产品规格表中。
DUT
A
V+
B
W
V
MS
OFFSET
GND
A
5V
OP279
V
IN
W
DUT
B
V
OUT
V+ = V
DD
1LSB = V + / 2
N
OFFSET
BIAS
图27.测试电路电位分压器非线性误差（ INL ， DNL ）
图32.测试电路同相增益
无连接
DUT
A
B
V
MS
W
OFFSET
GND
2.5V
I
W
A
V
IN
W
DUT
B
+15V
AD8610
–15V
V
OUT
图28.测试电路的电阻位置非线性误差
（变阻器操作; R- INL ， R- DNL ）
图33.测试电路增益与频率的关系
DUT
A
V
MS2
B
V
MS1
R
W
= [V
MS1
– V
MS2
]/I
W
W
V
W
I
W
= V
DD
/R
公称
DUT
W
B
I
SW
R
SW
=
0.1V
I
SW
CODE = 0×00
0.1V
V
SS
到V
DD
图29.测试电路抽头电阻
图34.测试电路增量导通电阻
V
A
V+ = V
DD
10%
V
DD
V+
B
电源抑制比（分贝）= 20的LOG
A
W
PSS （％/ ％）=
V
MS
V
MS
%
V
DD
%
(
V
DD
)
V
MS
NC
V
DD
V
SS
A
B
I
CM
V
CM
NC =无连接
DUT
GND
W
NC
图30.测试电路电源灵敏度（ PSS ， PSSR ）
图35.测试电路的共模漏电流
A
V
IN
OFFSET
GND
DUT
B
5V
W
OP279
V
OUT
OFFSET
BIAS
图31.测试电路反相增益
第0版|第11页20
