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A82DL16x4T （ U）系列
AC特性
只读操作
参数
JEDEC
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
性病
t
RC
t
加
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
读周期时间（注1 ）
分钟。
描述
测试设置
速度
-70
70
70
70
40
16
16
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
CE_F
= V
IL
地址输出延迟
芯片使能到输出延迟
输出使能到输出延迟
芯片使能到输出高Z
（注1,3）
输出使能到输出高Z
（注1,3）
输出保持时间从地址，
CE
or
OE
,
以先到为准科幻RST
输出使能保持时间
（注1 ）
读
切换和
OE
= V
IL
OE
= V
IL
马克斯。
马克斯。
马克斯。
马克斯。
马克斯。
t
AXQX
t
OH
t
OEH
分钟。
分钟。
分钟。
0
0
10
ns
ns
ns
数据
轮询
注意事项：
1.不100 ％测试。
2.参见图9和表14的测试规范。
通过放置一个50欧姆的终端上的数据引脚的（ VCC_F ） / 2偏置进行3测量。从时间
OE
高
向驱动，以（ VCC_F ）的数据总线/ 2取为t
DF
.
图11.读操作时序
t
RC
地址
t
加
CE_F
t
RH
t
RH
OE
t
OEH
WE
产量
高-Z
t
CE
输出有效
t
OH
高-Z
t
OE
t
DF
地址稳定
RESET
RY / BY
0V
初步
（ 2005年8月，版本0.0 ）
34
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