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SN54BCT8240A ， SN74BCT8240A
扫描测试设备
八进制反相缓冲器
SCBS067E - 1990年2月 - 修订1996年12月
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德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
八路测试，集成电路
功能上等同于' F240和
在正常功能模式“ BCT240
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
试运行同步到测试
访问端口（TAP ）
实现可选的测试复位信号由
认识一个双高电平电压
（ 10 V ）的TMS引脚
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
封装选择包括塑料
小外形（ DW ）封装，陶瓷
芯片载体（ FK ）和标准塑料
和陶瓷300万的DIP （ JT ， NT ）
SN54BCT8240A 。 。 。 JT包装
SN74BCT8240A 。 。 。 DW或NT包装
（ TOP VIEW ）
1OE
1Y1
1Y2
1Y3
1Y4
GND
2Y1
2Y2
2Y3
2Y4
TDO
TMS
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3
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17
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2OE
1A1
1A2
1A3
1A4
2A1
V
CC
2A2
2A3
2A4
TDI
TCK
SN54BCT8240A 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
描述
与八进制的“ BCT8240A扫描测试设备
缓冲区是德州仪器的成员
SCOPE 可测性集成电路系列。这
器件系列支持IEEE标准
1149.1-1990边界扫描，以促进测试
复杂的电路板组件。扫描访问
测试电路经由4线完成
测试访问端口（TAP ）接口。
1A2
1A1
2OE
NC
1OE
1Y1
1Y2
5
6
7
8
9
1A3
1A4
2A1
NC
V
CC
2A2
2A3
4
3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
2A4
TDI
TCK
NC
TMS
TDO
2Y4
NC - 无内部连接
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F240和' BCT240八进制缓冲器。试验
电路可以通过在TAP被激活以采取出现在设备终端中的数据的快照样品
或以上的边界试验电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响
在SCOPE 八路缓冲器的功能操作。
在测试模式中，所述范围进制缓冲器的正常运行被抑制，测试电路被使能
观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行
边界扫描测试的操作，如在IEEE标准1149.1-1990说明。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SCOPE是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
1Y3
1Y4
GND
NC
2Y1
2Y2
2Y3
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
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