ADM33xxE
保护结构实现ESD保护达
±15
千伏
所有的RS - 232 I / O口线（以及所有CMOS线路，包括SD和
EN
为ADM3307E ） 。该方法用于测试保护
方案将在后面讨论。
ESD测试（ IEC 1000-4-2 ）
I
PEAK -
%
36.8
10
100
90
采用IEC 1000-4-2 （以前801-2 ）指定符合性测试
两个耦合的方法，接触放电和空气隙放电。
接触放电要求直接连接到该单元
测试。气隙放电使用更高的测试电压，但不
做下测试与单元直接接触。随着空气排出，
放电枪移向下测试的单元，这
开发穿过气隙的电弧，因此称为空气排出。
此方法由湿度，温度，气压的影响
压力，距离和放电枪的关闭速度。该
接触放电方法，而不太现实，更多的是重复的
和正在被接受优先于空气隙的方法。
虽然很少的能量被包含在ESD脉冲内，
加上高电压的极快的上升时间可能会导致
故障在未受保护的半导体。灾难性的破坏
可以作为产生电弧或加热的结果立即发生。即使
不会立即发生灾难性的故障，该装置可
从参数退化可能导致降级遭受
性能。不断曝光的累积效果可以
最终导致彻底失败。
I / O线特别容易受到ESD的损害。简单地
接触或在插入的I / O电缆可导致静电放电
这可能损坏或完全报废接口产品
连接到I / O端口。传统的静电放电试验的方法，如
在MIL -STD- 883B方法3015.7 ，没有充分测试产品
易患这种类型的分泌物。此测试的目的是要
在处理过程中测试产品的易感性ESD损害。每
销相对于所有其他引脚进行测试。有一些祁门功夫，功夫
传统的测试和IEC测试之间坦差异：
（a）本IEC测试是更加严格的排放方面
能量。喷射出的峰值电流超过4倍。
（二）该电流上升时间是显著快于IEC测试。
（三） IEC测试的同时进行功率施加到设备。
它是可能的ESD放电能诱导闩锁在
被测器件。这个测试，因此，比较有代表性的
一个真实的世界I / O排放，其中设备运行
通常与电源应用。对于心灵然而最大的和平
以往，这两个测试应该执行，以确保最大程度的保护
无论是在处理和稍后在现场服务。
高
电压
发电机
R1
R2
t
RL
t
DL
时间T
图10.人体模型ESD电流波形
100
90
I
PEAK
– %
10
0.1 1ns的
30ns
60ns
时间T
图11. IEC1000-4-2 ESD电流波形
该ADM33xxE设备使用两个以上的测试
上述试验方法。所有引脚都相对于所有测试
其他引脚按人体模型ESD协会。标准。 55.1
规范。另外，所有的I / O引脚作为测试的每
IEC 1000-4-2测试规范。该产物下测试
满足下列条件：
（一）上电正常运行
（二）关机
有四个级别符合由IEC 1000-4-2规定。该
ADM33xxE部分满足最严格的合规水平
两个接触和空气隙放电。这意味着该产品
能够承受接触放电超过8千伏和
气隙放电超过15千伏。
表五， IEC 1000-4-2合规水平
水平
设备
被测
接触放电（kV ）
2
4
6
8
空气放电（kV ）
2
4
8
15
C1
ESD测试方法
人体模型
ESD协会。 STD 55.1
IEC1000-4-2
R2
1.5kV
330V
C1
100pF
150pF
1
2
3
4
图9. ESD测试标准
–14–
牧师F
