LMX2470
功能说明
（续）
1.4数字锁定检测操作
射频锁相环的数字锁定检测电路比较存在差
的相位检测器的输入端的相位之间ENCE
到的RC生成的10纳秒延迟。进入锁定状态
（锁=高）的相位误差必须小于10ns的
RC延时为5个连续的参考周期。一旦锁定
（锁=高） ， RC延迟变为约
为20ns 。要退出锁定状态（锁定= LOW ） ，相位误差
必须成为大于20ns的RC延迟。当
PLL处于掉电模式，锁被拉低。对于
射频锁相环的数字锁定检测电路不工作
可靠的比较频率高于20MHz的。
中频锁相环的数字锁定检测电路工作在一个非常类似的
方式为射频锁相环digitial锁电路，不同之处在于它使用了
延时小于15纳秒为5参考周期，以确定
锁定状态和大于30纳秒到延迟
确定IF PLL解锁。注意，如果在MUX [3：0 ]
字设置诸如查看锁定检测为两个PLL ，一个
解锁（低电平）状态示出的，每当任一
该锁相环被确定为失锁。的流程图
中频数字锁定检测电路，如下所示。
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