S I2 40 0
被测试。该数字流通过递送
隔离电容器，图3的第9页上的C1 ，向线
侧装置和在同样的屏障返回。记
在这种模式下， 0.9 dB的衰减也存在。
最后的测试模式，内部模拟环回，允许
要测试的系统发送的基本操作
和接收线路侧芯片与外部的路径
在图3中的组件第9页上在该测试模式中，所述
主机提供的RXD数字测试波形。此数据
传递跨越隔离栅，传输和
从线路接收到的，通过背面穿过隔离
障碍，并提出对TXD主机。要启用
这种模式下，明确呼包鄂（ SF1.2 ） 。
当HBE位被清零，这将导致一个直流偏移
这影响了发射信号的信号摇摆。在
此测试模式，则建议的发送
信号比正常发送电平低12分贝。这
较低级别将消除削波所引起的直流
偏移量，它是由禁用混合。这是
假定在该试验中，该线路的交流阻抗是
标称600
.
注意：
所有的测试模式是互斥的。如果超过一个
测试模式被同时启用时，其结果是
不可预知的。
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