SCANPSC110F SCAN桥
1999年10月
SCANPSC110F
SCAN桥层次和多点寻址
JTAG端口（ IEEE1149.1测试系统支持）
概述
该SCANPSC110F大桥延伸的IEEE标准。 1149.1
测试总线为多点测试总线的环境。在研华
的分层方法塔格在一个单一的串行扫描
链是提高测试吞吐量并删除的能力
板从系统并保留测试获得了剩下
荷兰国际集团的模块。高达每SCANPSC110F桥支持3
本地扫描戒指可单独或对其进行访问
bined连续。寻址是通过装载在 - 完成
梁支寄存器的值相匹配的插槽IN-
放。背板和板间的测试可以很容易地
停经当地TAP控制器在一个有成就
通过园区的指令稳定TAP控制器的状态。该
32位TCK柜台启用内置自测试操作要
在一个端口上，而其他的扫描链simulta-执行
neously测试。
n
6个插槽输入支持多达59唯一地址，一个
播地址，和4的多播组地址
n
3 IEEE 1149.1兼容配置本地扫描端口
n
模式寄存器允许本地抽头被绕过，
选择用于插入到扫描链单独，或
串联的两个或三个基团
n
32位计数器TCK
n
16位线性反馈移位寄存器签名夯
n
通过OE输入本地的TAP可以为三态，让
另一种测试主把当地的水龙头控制
n
IP版本该设备的支持功能不
在这个数据表，如8插槽的投入说明
增强的报告功能，并附加说明。
对于附加指令的完成说明
支持的，请参阅SCANPSC110补充
数据表。
特点
n
真正的IEEE1149.1层次和多点寻址
能力
连接图
28-Pin
CDIP和Flatpak
引脚分配为LCC
DS100327-2
DS100327-1
三州
是美国国家半导体公司的注册商标。
1999美国国家半导体公司
DS100327
www.national.com
