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HYB25D256[16/40/80]0C[E/C/F/T](L)
256 Mbit的双数据速率SDRAM
电气特性
4
4.1
表14
参数
电气特性
工作条件
绝对最大额定值
符号
分钟。典型值。马克斯。
–0.5 –
–1
–1
–1
0
-55
1.5
50
单位注/测试条件
在I / O引脚相电压
V
SS
在相对于输入电压
V
SS
电压
V
DD
相对于供应
V
SS
电压
V
DDQ
相对于供应
V
SS
工作温度(环境)
存储温度(塑料)
功耗(每SDRAM组件)
短路输出电流
V
IN
,
V
OUT
V
IN
V
DD
V
DDQ
T
A
T
英镑
P
D
I
OUT
V
DDQ
+0.5 V
+3.6
+3.6
+3.6
+70
+150
V
V
V
°C
°C
W
mA
注意:该设备永久损坏,如果“绝对最大额定值”超出可能发生。这
是一个压力只有评级,以及功能操作应仅限于推荐工作
条件。暴露在绝对最大额定值条件下长时间可能
影响设备的可靠性,只有超过一个值可能会造成不可逆的损害
集成电路。
表15
参数
输入和输出的电容
符号
分钟。
典型值。
马克斯。
2.5
3.0
0.25
2.5
3.0
0.5
4.5
5.0
0.5
pF
pF
pF
pF
pF
pF
pF
pF
pF
1.5
2.0
1.5
2.0
3.5
4.0
单位
注意: /
测试条件
P-TFBGA-60-12
1)
P-TSOPII-66
1)
1)
输入电容: CK , CK
三角洲输入电容
输入电容:
所有其他输入专用管脚
三角洲输入电容:
所有其他输入专用管脚
C
I1
C
dI1
C
I2
C
DIO
P-TFBGA-60-12
1)
P-TSOPII-66
1)
1)
输入/输出电容: DQ , DQS , DM
C
IO
P-TFBGA-60-12
1)2)
P-TSOPII-66
1)2)
1)
三角洲输入/输出电容:
DQ , DQS , DM
C
DIO
1 )这些值不是产品出厂测试 - 已经过设计/特性验证,并在只样本库进行测试。
VDDQ = VDD = 2.5 V± 0.2 V , F = 100 MHz时, TA = 25 ×C , VOUT ( DC ) = VDDQ / 2 , VOUT (峰峰值) 0.2五,未使用的引脚
被接地。
2) DM输入被分组与I / O引脚反映它们是匹配于装载到DQ和DQS便于跟踪的事实
在板级匹配。
数据表
62
修订版1.6 , 2004-12

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