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附录D修订历史
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页面
p. 408
p. 409
p. 412
p. 412
p. 414
p. 415
描述
加
记
在描述
22.1功能上电清零电路
修改
图22-1框图上电清零电路
加
记
在描述
23.1功能低电压检测器
修改
低电压检测器图23-1框图
修改
注5
in
图23-2格式的低电压检测寄存器（ LVIM ）
加
注2
和
小心
to
图23-3格式的低电压检测电平选择
寄存器（ LVIS ）
pp. 417, 419
修改
图23-4时序低电压检测器内部复位信号产生
和
图23-5时序低电压检测器中断信号产生
p. 422
的描述的部分修改
（2）用作中断
下
＆ lt;作用＆ GT ;
in
23.5注意事项
低电压检测器
p. 423
p. 425
p. 426
p. 428
p. 430
p. 436
修订
第24章稳压器
加
记
to
第25章MASK选项
修改
ROM校正图26-1框图
修改
记
in
图26-3格式校正控制寄存器
修改
存储到EEPROM图26-5示例（当一个地方被修正）
修订
第27章
PD78F0134 ， 78F0138
（无修改
27.1内部存储器容量
切换寄存器
和
27.2内部扩展RAM容量切换寄存器）
p. 463
p. 468
“ RETI ”的动作的局部修改
28.2操作列表
修订
第29章电气特性（标准产品， （ A）等级
PRODUCTS）
p. 487
p. 506
p. 523
p. 536
p. 538
p. 540
p. 541
p. 556
加
第30章电气特性（ （ A1 ）等级产品）
加
第31章电气特性（ （ A2 ）等级产品）
加
推荐33章焊接条件
加
A.3控制软件
除了在线仿真器的“ IE- 78K0K1 -ET ”到
A.5调试工具（硬件）
修改RX78K0的零件号
A.7嵌入式软件
加
附录B关于目标系统设计
加
附录D修订历史
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用户手册U16228EJ2V0UD
