PEB 20324
PEF 20324
测试模式
所需的测试模式通过串行加载一个3位的指令代码插入到
通过TDI指令寄存器（低位在前） ;看
表6-2 。
表6-2
000
001
010
011
111
OTHERS
边界扫描测试模式
测试模式
EXTEST （外部测试）
INTEST （内部测试）
SAMPLE / PRELOAD （快照测试）
IDCODE （读取ID码）
旁路（搭桥手术）
像旁路处理
指令（位2 ... 0 ）
EXTEST
用于检查主板上的设备的互连。在本试验中
首先所有输入引脚模式
CAPTURE
当前级别上的相应的外部
互连线，而所有输出管脚被保持在恒定值（'0'或'1'，
根据
表6-1 ） 。
然后将边界扫描的内容是
移
到TDO 。在
在下一个扫描矢量从TDI的装载在同一时间。随后所有输出引脚
更新
根据新的边界扫描内容和所有输入引脚再次捕获
当前外部电平后，依此类推。
INTEST
支持该芯片的内部测试，即在输出引脚
CAPTURE
当前级别
而对所有的输入引脚对应的内线保持在恒定值（ '0'
或“1” ，根据
表6-1 ） 。
由此产生的边界扫描矢量
移
到TDO 。
接下来的测试向量通过TDI串行加载。然后，所有的输入引脚
更新
对于
下面的测试周期。
注：在捕获的IR状态代码“001”被自动加载到指令
注册，也就是说，如果INTEST被通缉移位IR状态并不需要传递。
采样/预
是一个测试模式，它在提供了一个快照引脚的电平的
正常操作。
IDCODE ：
32位识别寄存器通过TDO串行读出。它包含的
的版本号（4位） ，设备代码（16位）和制造商码（11位）。
LSB固定为“1” 。
TDI ->
0011
0000 0000 0100 0100
0000 1000 001
1
-> TDO
注：由于测试逻辑复位状态代码“011”被自动加载到
指令寄存器， ID码可以很容易地在Shift DR状态被读出
由TMS = 0，1， 0，0为止。
BYPASS ：
有点TDI进入之后一个TCK时钟周期转移到TDO 。
硬件参考手册
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04.99
