FLEX 8000可编程逻辑器件系列数据手册
表7. JTAG时序参数值&
符号
参数
EPF8282A
EPF8282AV
EPF8636A
EPF8820A
EPF81500A
民
t
JCP
t
JCH
t
JCL
t
JPSU
t
JPH
t
JPCO
t
JPZX
t
JPXZ
t
JSSU
t
JSH
t
JSCO
t
JSZX
t
JSXZ
TCK
时钟周期
TCK
时钟高电平时间
TCK
时钟低电平时间
JTAG端口设置时间
JTAG端口保持时间
JTAG端口的时钟输出
JTAG端口的高阻抗输出有效
JTAG端口有效输出为高阻
捕获寄存器建立时间
捕获寄存器保持时间
更新寄存器时钟输出
更新寄存器的高阻抗输出有效
更新寄存器中的有效输出为高阻
20
45
35
35
35
100
50
50
20
45
25
25
25
单位
最大
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
f
通用测试
有关在FLEX 8000器件的JTAG操作的详细信息，请参阅
应用笔记39 （ JTAG边界扫描测试中的Altera器件） 。
每个FLEX 8000器件的功能测试和Altera的规定。
每个配置的SRAM位和所有逻辑完整的测试
功能可确保100 ％的配置率。交流测试测量
FLEX 8000器件都等同于示出的条件下进行
in
图15 。
设计人员可以使用多种测试模式来配置设备
在生产流程的各个阶段。
26
Altera公司。
