飞利浦半导体可编程逻辑器件
产品speci fi cation
可编程逻辑阵列
(22
×
42
×
10)
PLUS173B/D
AC电气特性
0°C
≤
T
AMB
≤
+75°C, 4.75
≤
V
CC
≤
5.25V ，R
1
= 300, R
2
= 390
范围
符号
参数
从
TO
TEST
条件
t
PD
t
OE
t
OD
传播延迟
2
OUTPUT ENABLE
1
输出禁用
1
输入+/-
输入+/-
输入+/-
输出+/-
输出=
输出+
C
L
= 30pF的
C
L
= 30pF的
C
L
= 5pF的
民
PLUS173B
典型值
11
11
11
最大
15
15
15
民
PLUS173D
典型值
10
10
10
最大
12
12
12
ns
ns
ns
单位
注意事项：
1.对于三态输出;输出使能时间是用C测试
L
= 30pF的到1.5V电平，和S
1
为您开放，高阻抗高测试和
关闭高阻抗低的测试。输出禁用时间是用C测试
L
= 5pF的。高到高阻抗的测试是由一个输出
V的电压
T
= (V
OH
- 0.5V ）带S
1
开，并且由低到高阻抗的测试都是为了在V
T
= (V
OL
+ 0.5V ）级带S
1
封闭。
2.所有的传播延迟被测量，并且最坏情况的条件下指定。
电压波形
+3.0V
90%
测试负载电路
V
CC
+5V
S
1
10%
0V
5ns
+3.0V
90%
t
R
t
F
5ns
C
1
C
2
I
n
B
Z
R
1
输入
I
n
B
M
DUT
R
2
C
L
10%
0V
5ns
5ns
B
M
GND
B
Z
输出
测量：
所有的电路延迟在+ 1.5V电平测量
的输入和输出，除非另有规定。
注意：
C
1
和C
2
要绕过V
CC
到GND 。
输入脉冲
测试负载电路
时序定义
符号
t
PD
t
OD
参数
之间的传播延迟
输入和输出。
输入变化之间的延迟
当输出处于关闭状态（高阻
或高） 。
输入变化之间的延迟
当输出反映
指定的输出电平。
时序图
+3V
I，B
1.5V
1.5V
1.5V
0V
V
OH
B
1.5V
V
T
t
OD
t
OE
1.5V
V
OL
t
PD
t
OE
1993年10月22日
37
