AMD
站/ DTE
环回
测试模式
注1
中继器
环回
测试模式
注1
DO-
XMT
COL
RCV
TXD ± / ± TXP
DO-
XMT
COL
RCV
TXD ± / ± TXP
DIA
RXD-
DIA
RXD-
CI-
TEST1
TEST2 SQE TEST
CI-
TEST1
TEST2 SQE TEST
高
高
低
高
高
高
16511B-6
注意：
1.在环回时，
COL
销并不表明碰撞，而是提供的指示
TXD
±
/ TXP
±
活动。有关详细信息，请参阅标题为“测试模式”。
图3. Am79C100 TPEX加环回操作
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Am79C100
