ADG658/ADG659
V
DD
V
DD
V
SS
V
SS
S1
S2–S8
V
S
启用
DRIVE （V
IN
)
0V
3V
50%
50%
A2
A1
A0
ADG658*
EN
V
IN
50
GND
D
R
L
300
C
L
35pF
V
OUT
产量
t
关闭
（ EN ）
V
O
0.9V
O
0.9V
O
0V
*类似
连接对于ADG659
t
ON
（ EN ）
测试电路7.启用延迟，T
ON
（ EN ） ，T
关闭
(
EN
)
(
（ EN
½
½½
½½ ½
½½
½½
½
½
½
½
½
½½
½½
½
EN
½
½½
½
½½
½½½½½½½½½½½
½½
½½
½
½
½
½
½½½
½
½½½
½½
½½
½½½½½½*
½½½
½
½½½
½
½½½
½½½½
½
½½½½½
½½½
½
½½
½½½
*½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½½
测试电路8.电荷注入
V
DD
0.1F
V
DD
S
D
逻辑1
EN
GND
R
L
50
V
SS
0.1F
V
SS
网
分析仪
50
50
V
S
V
OUT
V
DD
0.1F
V
SS
0.1F
A2
A1
A0
V
DD
A2
A1
A0
S
V
SS
50
V
S
D
V
OUT
R
L
50
EN
GND
关断隔离= 20日志
V
OUT
V
S
插入损耗= 20 LOG
V
OUT
带开关
V
OUT
不带开关
测试电路9.关闭隔离
V
DD
0.1F
V
DD
V
SS
EN
V
SS
0.1F
测试电路10，带宽
A1
A0
网
分析仪
50
V
S
50
ADG659
S1A
S1B
DB
DA
GND
DA
DB
网
分析仪
V
OUT
R
L
50
通道至通道串扰= 20 LOG
V
OUT
V
S
测试电路11通道至通道串扰
–10–
第0版
