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> TAA762 PDF资料1第9页
TAA 762
TAA 765
C
1
为分钟。过冲(约22 pF的)
测试电路1的转换率
(非反相操作)
C
2
引起的频率相关的补偿,以减少上升时间(大约390 pF)的
C
1
为分钟。过冲(约3.9 pF的)
测试电路2的压摆率
(反向操作)
半导体集团
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