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测试访问端口引脚
TCK - 测试时钟（ INPUT）
时钟的所有TAP事件。所有的输入被捕获的上升
TCK的边缘，所有输出的下降沿传播
的TCK 。
TMS - 测试模式选择（ INPUT）
TMS输入进行采样，在TCK的上升沿。这
是TAP控制器状态机的命令输入。
一个为非驱动，TMS输入将产生相同的结果作为
逻辑1输入电平。
TDI - 测试数据输入（ INPUT）
TDI输入进行采样，在TCK的上升沿。这是
串行寄存器的输入端放置TDI和间
TDO 。置于TDI和TDO之间的寄存器是阻止 -
通过TAP控制器状态机的状态和开采
这是在TAP指令当前加载指令
寄存器（参见图5）。无驱动TDI引脚将产生
相同的结果为逻辑1输入电平。
TDO - 测试数据输出（ OUTPUT）
输出取决于TAP的状态是积极的
状态机（见图5） 。响应输出的变化
TCK的下降沿。这是串行的输出侧
寄存器置于TDI和TDO之间。
TRST - TAP复位
此装置具有TRST引脚。 TRST是可选的IEEE
1149.1 。断言异步TRST放置TAP
控制器的测试逻辑复位状态。可以测试逻辑复位状态
也可以通过按住TMS高为5上升沿进入
TCK 。这种类型的复位不会影响到操作
系统逻辑。
1
TEST- LOGIC
RESET
0
0
RUN -TEST /
空闲
1
选择DR -SCAN
1
0
1
1
0
选择IR -SCAN
1
CAPTURE -DR
CAPTURE -IR
0
SHIFT -DR
0
0
SHIFT -IR
0
1
EXIT1–DR
0
停顿1 -DR
1
0
EXIT2–DR
1
暂停2 -DR
1
0
1
0
0
1
1
EXIT1–IR
0
暂停IR
0
1
1
EXIT2–IR
1
UPDATE -IR
0
注：相邻的状态转换的值表示在TMS的信号在TCK的上升沿。
图5. TAP控制器状态图
MCM69C232
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摩托罗拉快速SRAM
